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泰瑞达2018年度测试设备技术研讨会——北京站

2018年12月5日 9:30 ~ 2018年12月5日 15:30

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    会议介绍 


    尊敬的贵宾:您好


    诚邀您参加泰瑞达2018年度测试设备技术研讨会,与行业内专家一起互动交流。


    泰瑞达将为您介绍最前沿技术,提供最佳测试方案,同时也会展示我们所研发的最新测试产品

            

            时间地点           


    ​研讨会时间:12月05日,周三,09:30-15:30


    研讨会地点:北京丽亭华苑酒店

    北京海淀区知春路25号


    面向人群:测试设备技术相关人群 

          

     日程安排 

                     

    泰瑞达产品更新


    AI芯片测试挑战和解决方案


    茶歇


    测试开发软件的新功能介绍


    RF测试的技巧


    午餐


    最优成本的IOT测试


    提高整体测试质量的方案探讨


    茶歇


    泰瑞达测试服务方案介绍


    电源管理类芯片低成本测试方案介绍


    会议结束致辞和抽奖


    备注:日程安排依当日具体情况,如有变动,请谅解


        温馨提示     


    如果报名的朋友们提供的email和手机号码无误

    我们会在活动开始前发送短信和邮件通知。

    请确认自己填写的email地址无误。

    如果您未收到相关信息,可致电进行咨询

    请您带上名片参加我们的抽奖活动

                   

                              关于主办方                            


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    关于泰瑞达

        

    泰瑞达(纽交所:TER)是一家领先的测试和工业用自动化设备的供应商。泰瑞达自动测试设备(ATE)是用来测试半导体,无线产品,数据存储和复杂的电子系统,用于消费品,通信,工业和政府的客户。我们的工业自动化产品包括全球制造和轻工业客户使用的协作机器人,以提高质量和生产效率。更多信息请访问:

    www.teradyne.cn 


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