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泰瑞达2018年度测试设备技术研讨会———深圳站
2018年12月7日 9:30 ～ 2018年12月7日 15:00
泰瑞达（上海）有限公司收起
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活动内容收起
会议介绍
尊敬的贵宾：您好
诚邀您参加泰瑞达2018年度测试设备技术研讨会，与行业内专家一起互动交流。
泰瑞达将为您介绍最前沿技术，提供最佳测试方案，同时也会展示我们所研发的最新测试产品
时间地点
研讨会时间：12月07日，周五，09:30-15:00
研讨会地点：深圳中油阳光大酒店
深圳市南山区南山大道1110号
面向人群：测试设备技术相关人群
日程安排
泰瑞达产品更新 AI芯片测试挑战和解决方案 茶歇 最优成本的IOT测试 午饭 提高同测数降低测试成本的案例分享 IGBT的最佳测试方法 电源管理类芯片的成本测试方案介绍 会议结束致辞和抽奖
备注：日程安排依当日具体情况，如有变动，请谅解
温馨提示
如果报名的朋友们提供的email和手机号码无误
我们会在活动开始前发送短信和邮件通知。
请确认自己填写的email地址无误。
如果您未收到相关信息，可致电进行咨询
请您带上名片参加我们的抽奖活动
关于主办方
关于泰瑞达
www.teradyne.cn
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